WAFER metrology center

WIPO WIPO 2016

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Die Internationale Marke WAFER metrology center wurde als Bildmarke am 10.05.2016 bei der Weltorganisation für geistiges Eigentum angemeldet.

Logodesign (Wiener Klassifikation)

#Kreise #Segmente oder Sektoren von Kreisen oder Ellipsen #Quadrilateralen #Briefe, die eine besondere Form des Schreibens darstellen #Farben #Kreise mit einem oder mehreren Vierecken (geben Sie den Inhalt an) #Halbkreise, Halbellipsen #Mehrere Vierecke nebeneinander, verbunden oder sich überschneidend #Quadrilaterale mit dunklen Flächen oder Teilen von Flächen #Buchstabenreihen in verschiedenen Dimensionen #Zwei vorherrschende Farben

Markendetails Letztes Update: 14. September 2018

Markenform Bildmarke
Aktenzeichen 1321768
Länder Japan Südkorea Singapur Vereinigte Staaten von Amerika (USA) Schweiz China Frankreich Italien
Basismarke DE Nr. 30 2016 213 668, 10. Mai 2016
Anmeldedatum 10. Mai 2016
Ablaufdatum 10. Mai 2026

Markeninhaber

Mallaustr. 72
68219 Mannheim
DE

Waren und Dienstleistungen

09 Optical measuring apparatus
Die Bezeichnungen wurden automatisch übersetzt. Übersetzung anzeigen

Markenhistorie

Datum Belegnummer Bereich Eintrag
10. September 2018 2018/37 Gaz KR RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal
23. März 2018 2018/17 Gaz US RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal
19. Dezember 2017 2017/52 Gaz KR Ablehnung
10. November 2017 2017/46 Gaz CH Ablehnung
30. Oktober 2017 2018/7 Gaz IT Ablehnung
09. August 2017 2017/32 Gaz CN Ablehnung
12. Juni 2017 2017/25 Gaz KR Ablehnung
25. April 2017 2017/17 Gaz SG Ablehnung
03. April 2017 2017/23 Gaz FR Ablehnung
16. März 2017 2017/11 Gaz JP Ablehnung
12. Dezember 2016 2016/51 Gaz US Ablehnung
10. Mai 2016 2016/47 Gaz DE Eintragung

ID: 141321768