WAFER metrology center Logo (WIPO, 10.05.2016)
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Die Internationale Marke WAFER metrology center wurde als Bildmarke am 10.05.2016 bei der Weltorganisation für geistiges Eigentum angemeldet.
#Kreise #Segmente oder Sektoren von Kreisen oder Ellipsen #Quadrilateralen #Briefe, die eine besondere Form des Schreibens darstellen #Farben #Kreise mit einem oder mehreren Vierecken (geben Sie den Inhalt an) #Halbkreise, Halbellipsen #Mehrere Vierecke nebeneinander, verbunden oder sich überschneidend #Quadrilaterale mit dunklen Flächen oder Teilen von Flächen #Buchstabenreihen in verschiedenen Dimensionen #Zwei vorherrschende Farben
Markenform | Bildmarke |
Aktenzeichen | 1321768 |
Länder | |
Basismarke | Nr. 30 2016 213 668, 10. Mai 2016 |
Anmeldedatum | 10. Mai 2016 |
Ablaufdatum | 10. Mai 2026 |
Datum | Belegnummer | Bereich | Eintrag |
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10. September 2018 | 2018/37 Gaz | KR | RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal |
23. März 2018 | 2018/17 Gaz | US | RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal |
19. Dezember 2017 | 2017/52 Gaz | KR | Ablehnung |
10. November 2017 | 2017/46 Gaz | CH | Ablehnung |
30. Oktober 2017 | 2018/7 Gaz | IT | Ablehnung |
09. August 2017 | 2017/32 Gaz | CN | Ablehnung |
12. Juni 2017 | 2017/25 Gaz | KR | Ablehnung |
25. April 2017 | 2017/17 Gaz | SG | Ablehnung |
03. April 2017 | 2017/23 Gaz | FR | Ablehnung |
16. März 2017 | 2017/11 Gaz | JP | Ablehnung |
12. Dezember 2016 | 2016/51 Gaz | US | Ablehnung |
10. Mai 2016 | 2016/47 Gaz | DE | Eintragung |
ID: 141321768