KLA+

WIPO WIPO 2018

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Die Internationale Marke KLA+ wurde als Bildmarke am 28.11.2018 bei der Weltorganisation für geistiges Eigentum angemeldet.

Logodesign (Wiener Klassifikation)

#Zeichen, Notationen, Symbole #Briefe, die eine besondere Form des Schreibens darstellen #Mathematische Zeichen

Markendetails Letztes Update: 31. März 2021

Markenform Bildmarke
Aktenzeichen 1445505
Länder Australien Schweiz China Europäische Gemeinschaft Großbritannien Indonesien Israel Indien Japan Südkorea Mexiko Norwegen Neuseeland Philippinen Russland Singapur Thailand Vietnam
Basismarke US Nr. 88142130, 03. Oktober 2018
Anmeldedatum 28. November 2018
Ablaufdatum 28. November 2028

Markeninhaber

One Technology Drive
Milpitas CA 95035
US

Markenvertreter

379 Lytton Avenue Palo Alto CA 94301 US

Waren und Dienstleistungen

09 Computer hardware; computer hardware and software for testing, inspecting, characterizing, and predicting physical and electrical properties of semiconductors, integrated circuits, microelectronics, wafers, and lithographic masks; instruments for testing, inspecting, and characterizing physical properties of semiconductors and integrated circuits; computer software for use in process control and yield management for the semiconductor, integrated circuit and related microelectronics manufacturing industries; computer software for providing analytic data on the performance of inspection and metrology tools; computer hardware and software used for monitoring, controlling, and improving semiconductor and integrated circuit manufacturing processes; computer hardware and software used for event prediction in the manufacturing of semiconductors and integrated circuits; reconditioned computer hardware tools, namely, inspection, metrology and testing hardware that are used in field of semiconductors, thin film heads and related industries that use the same manufacturing technology; semiconductor and wafer defect inspection systems comprised of computer software, final test data and electrical data algorithms, and inline defect and metrology computer hardware equipment; computer software for use in detecting defective semiconductor electronic components
Die Bezeichnungen wurden automatisch übersetzt. Übersetzung anzeigen

Markenhistorie

Datum Belegnummer Bereich Eintrag
25. März 2021 2021/13 Gaz MX RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
05. Dezember 2020 2021/1 Gaz PH RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
10. November 2020 2020/46 Gaz CH RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
10. September 2020 2020/38 Gaz JP RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal
09. Juli 2020 2020/28 Gaz TH Ablehnung
29. Juni 2020 2020/27 Gaz KR RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal
07. Mai 2020 2020/19 Gaz JP Ablehnung
05. März 2020 2020/13 Gaz CH Ablehnung
29. Januar 2020 2020/5 Gaz MX Ablehnung
17. Januar 2020 2020/4 Gaz NO Ablehnung
16. Januar 2020 2020/4 Gaz VN Ablehnung
29. November 2019 2019/50 Gaz ID Ablehnung
05. November 2019 2019/45 Gaz IL Ablehnung
14. Oktober 2019 2019/42 Gaz KR Ablehnung
14. Oktober 2019 2019/42 Gaz IN Ablehnung
01. Oktober 2019 2019/40 Gaz NZ RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
22. August 2019 2019/41 Gaz AU RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
26. Juli 2019 2019/31 Gaz RU Ablehnung
19. Juli 2019 2019/29 Gaz SG Ablehnung
26. Juni 2019 2019/26 Gaz EM Ablehnung
21. Juni 2019 2019/26 Gaz CN Ablehnung
04. Juni 2019 2019/24 Gaz AU Ablehnung
09. April 2019 2019/15 Gaz GB Ablehnung
26. Februar 2019 2019/9 Gaz Korrektur
13. Februar 2019 2019/10 Gaz NZ Ablehnung
08. Februar 2019 2019/7 Gaz PH Ablehnung
28. November 2018 2019/2 Gaz US Eintragung

ID: 141445505