BASIC

WIPO WIPO 2022

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Die Internationale Marke BASIC wurde als Wortmarke am 21.07.2022 bei der Weltorganisation für geistiges Eigentum angemeldet.

Markendetails Letztes Update: 28. Juli 2023

Markenform Wortmarke
Aktenzeichen 1692948
Registernummer 5636965
Länder China Europäische Gemeinschaft Südkorea Vereinigte Staaten von Amerika (USA)
Basismarke JP Nr. 5636965, 13. Dezember 2013
Anmeldedatum 21. Juli 2022
Ablaufdatum 21. Juli 2032

Markeninhaber

2-10-1 Shin-yokohama,
Kohoku-ku,
JP

Markenvertreter

HIBIKI IP Law Firm, Asahi Bldg. 5th Floor, JP

Waren und Dienstleistungen

07 Defect repair machines for photomasks for semiconductors; defect repair machines for reticles for semiconductors; foreign matter removal machines for photomasks for semiconductors; foreign matter removal machines for reticles for semiconductors
09 Semiconductor photomask inspection apparatus; semiconductor photomask pattern measuring apparatus; semiconductor reticle inspection apparatus; semiconductor reticle pattern measuring apparatus
Die Bezeichnungen wurden automatisch übersetzt. Übersetzung anzeigen

Markenhistorie

Datum Belegnummer Bereich Eintrag
26. Juli 2023 2023/30 Gaz EM Ablehnung
20. Juni 2023 2023/25 Gaz US Ablehnung
30. November 2022 2022/49 Gaz EM Ablehnung
21. Juli 2022 2022/42 Gaz JP Eintragung

ID: 141692948