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Die US-Marke EXCELLENCE IN NANOMETROLOGY wurde als Wortmarke am 02.08.2007 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 17.06.2008 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "CANCELLED - SECTION 8".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 77245031 |
| Registernummer | 3451584 |
| Anmeldedatum | 02. August 2007 |
| Eintragungsdatum | 17. Juni 2008 |
Markeninhaber
KANC 4F, lui-Dong 906-10
443-766 Suwon
KR
443-766 Suwon
KR
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
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instruments for carrying out microscale and nanoscale measurements and analyses, namely, scanning probe microscopes and atomic force microscopes
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ID: 1377245031