METROLOGY 1, 2, 3

USPTO 2000 ABANDONED - NO STATEMENT OF USE FILED

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Die US-Marke METROLOGY 1, 2, 3 wurde als Wortmarke am 15.09.2000 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet. Der aktuelle Status der Marke ist "ABANDONED - NO STATEMENT OF USE FILED".

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Markendetails Letztes Update: 16. Mai 2018

Markenform	Wortmarke
Aktenzeichen	76128400

Anmeldedatum	15. September 2000
Veröffentlichungsdatum	21. Mai 2002

Markeninhaber

ON-LINE TECHNOLOGIES, INC.

87 CHURCH STREET
06108 EAST HART-FORD
US

Markenvertreter

Ira S. Dorman

Waren und Dienstleistungen

9 Metrology tool for optically measuring properties of semiconductor wafers at various stages during fabrication of semiconductor devices, including an optical sensor, a wafer-support stage, electronic data processing means, and mechanical and software interfaces for integration with wafer-loading tools and wafer-processing tools

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ID: 1376128400