KLA

WIPO WIPO 2018

Schützen Sie diese Marke vor Nachahmern!

Mit unserer Markenüberwachung werden Sie automatisch per E-Mail über Nachahmer und Trittbrettfahrer benachrichtigt.

Die Internationale Marke KLA wurde als Wortmarke am 28.11.2018 bei der Weltorganisation für geistiges Eigentum angemeldet.

Markendetails Letztes Update: 04. Februar 2021

Markenform Wortmarke
Aktenzeichen 1444695
Länder Australien Schweiz China Europäische Gemeinschaft Großbritannien Indonesien Israel Indien Japan Südkorea Mexiko Norwegen Neuseeland Philippinen Russland Singapur Thailand Vietnam
Basismarke US Nr. 88041391, 17. Juli 2018
Anmeldedatum 28. November 2018
Ablaufdatum 28. November 2028

Markeninhaber

One Technology Drive
Milpitas CA 95035
US

Markenvertreter

379 Lytton Avenue Palo Alto CA 94301 US

Waren und Dienstleistungen

09 Computer hardware; computer hardware and software for testing, inspecting, characterizing, and predicting physical and electrical properties of semiconductors, integrated circuits, microelectronics, wafers, and lithographic masks; instruments for testing, inspecting, and characterizing physical properties of semiconductors and integrated circuits; computer software for use in process control and yield management for the semiconductor, integrated circuit and related microelectronics manufacturing industries; computer software for providing analytic data on the performance of inspection and metrology tools; computer hardware and software used for monitoring, controlling, and improving semiconductor and integrated circuit manufacturing processes; computer hardware and software used for event prediction in the manufacturing of semiconductors and integrated circuits; reconditioned computer hardware tools, namely, inspection, metrology and testing hardware that are used in field of semiconductors, thin film heads and related industries that use the same manufacturing technology; semiconductor and wafer defect inspection systems comprised of computer software, final test data and electrical data algorithms, and inline defect and metrology computer hardware equipment; computer software for use in detecting defective semiconductor electronic components
Die Bezeichnungen wurden automatisch übersetzt. Übersetzung anzeigen

Markenhistorie

Datum Belegnummer Bereich Eintrag
25. Januar 2021 2021/5 Gaz PH RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
18. Dezember 2020 2021/2 Gaz MX RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
03. September 2020 2020/37 Gaz JP RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal
25. Juni 2020 2020/27 Gaz TH Ablehnung
22. April 2020 2020/19 Gaz KR RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal
12. März 2020 2020/11 Gaz JP Ablehnung
23. Januar 2020 2020/7 Gaz SG RAW: Rule 18ter(2)(ii) GP following a provisional refusal
10. Januar 2020 2020/3 Gaz NO Ablehnung
10. Januar 2020 2020/4 Gaz VN Ablehnung
09. Dezember 2019 2019/51 Gaz IL RAW: Rule 18ter(2)(i) GP following a provisional refusal
29. November 2019 2019/50 Gaz ID Ablehnung
21. November 2019 2019/47 Gaz CH Ablehnung
08. November 2019 2019/46 Gaz MX Ablehnung
21. Oktober 2019 2019/43 Gaz IN Ablehnung
02. Oktober 2019 2019/41 Gaz KR Ablehnung
07. August 2019 2019/32 Gaz AU Ablehnung
29. Juli 2019 2019/32 Gaz IL Ablehnung
17. Juli 2019 2019/30 Gaz RU Ablehnung
21. Juni 2019 2019/26 Gaz CN Ablehnung
19. Juni 2019 2019/25 Gaz EM Ablehnung
29. Mai 2019 2019/22 Gaz NZ Ablehnung
19. April 2019 2019/18 Gaz SG Ablehnung
11. April 2019 2019/15 Gaz GB Ablehnung
30. Januar 2019 2019/6 Gaz PH Ablehnung
14. Januar 2019 2019/3 Gaz Korrektur
28. November 2018 2019/1 Gaz US Eintragung

ID: 141444695