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Die US-Marke 3VIEW wurde als Wortmarke am 19.04.2006 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 20.10.2009 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "REGISTERED AND RENEWED".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 78864376 |
| Registernummer | 3700418 |
| Anmeldedatum | 19. April 2006 |
| Veröffentlichungsdatum | 26. Juni 2007 |
| Eintragungsdatum | 20. Oktober 2009 |
Markeninhaber
5794 W. Las Positas Blvd.
94588 Pleasanton
US
94588 Pleasanton
US
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
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microtome and digital imaging system, consisting of a microtome, specimen stage, digital control for an electron beam, back-scattered electron detector and computer software for use in controlling the microtome, the position of a specimen and the specimen stage, communicating specifications for magnification, focus, astigmatism and beam blanking to a scanning electron microscope (SEM) column, controlling the position and scanning function of an electron beam, scanning and monitoring images, integrating multiple image frames, coordinating multiple, simultaneous image inputs, controlling the pixel density, pixel dwell time, magnification, focus, aspect ratio and astigmatism of an acquired image; and re-binning image data for export to three dimensional imaging software, all for use with scanning electron microscopes
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ID: 1378864376