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Die US-Marke ODP wurde als Wortmarke am 20.05.2003 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 24.10.2006 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "CANCELLED - SECTION 8".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 78252031 |
| Registernummer | 3161500 |
| Anmeldedatum | 20. Mai 2003 |
| Veröffentlichungsdatum | 08. August 2006 |
| Eintragungsdatum | 24. Oktober 2006 |
Markeninhaber
3-1 Akasaka 5-chome, Minato-ku
Tokyo
JP
Tokyo
JP
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
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(Based on Use in Commerce) Optical digital measuring systems sold as a unit for measuring critical dimensions, profile and film thickness in semiconductor manufacturing, comprising, namely, an electric light source, a spectroscopic elipsometry, reflectometry, computer hardware, critical dimensions metrology software and, profile and thickness semiconductor measurement software
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(based on 44(d)) repair, installation, and maintenance of optical digital measurement apparatus for measuring critical dimensions, profile and film thickness in semiconductor and flat panel display manufacturing; repair, installation and maintenance of computers, including CPU and peripheral equipment
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(based on 44(d) ) consulting services relating to semiconductor manufacturing apparatus and flat panel display manufacturing apparatus and flat panel display manufacturing apparatus; consulting services relating to operational and functional aspects of optical measuring machines and apparatus for measuring film thickness and size and shape of wafers, and for particle inspection; repair, installation and maintenance of computer programs software
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ID: 1378252031