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Die US-Marke PAS wurde als Wortmarke am 19.02.1991 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 26.11.1991 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "CANCELLED - SECTION 8".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 74139934 |
| Registernummer | 1665747 |
| Anmeldedatum | 19. Februar 1991 |
| Veröffentlichungsdatum | 03. September 1991 |
| Eintragungsdatum | 26. November 1991 |
Markeninhaber
47320 Mission Falls Court
94539 Fremont
US
94539 Fremont
US
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
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computer program for use with a device for measuring parameters of semiconductor wafers, including metal thickness and deposit monitoring, noncontact resistivity monitoring, grain structure monitoring, dielectric film thickness and RIE/plasma etch damage minimization
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ID: 1374139934