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Die Unionsmarke InSPEC wurde als Wortmarke am 27.01.2023 beim Amt der Europäischen Union für Geistiges Eigentum angemeldet.
Sie wurde am 11.07.2023 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "Marke eingetragen (aktive Marke)".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 018827696 |
| Anmeldedatum | 27. Januar 2023 |
| Veröffentlichungsdatum | 29. März 2023 |
| Eintragungsdatum | 11. Juli 2023 |
| Ablaufdatum | 27. Januar 2033 |
Markeninhaber
Eschenstr. 66
82024 Taufkirchen
DE
82024 Taufkirchen
DE
Markenvertreter
Voltastrasse 5
13355 Berlin
DE
Waren und Dienstleistungen
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Herunterladbare Computersoftware zur Fernüberwachung und -analyse für die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Software zur Überwachung, Analyse, Steuerung und Ausführung von Vorgängen in der physischen Welt in den folgenden Bereichen: Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Computersoftware für die Fernüberwachung von Messgeräten; Mess-, Erkennungs-, Überwachungs- und Kontrollgeräte; Rasterelektronenmikroskope; Rastersondenmikroskope; Apparate und Instrumente für die Rastersondenmikroskopie; Messsoftware, Erkennungssoftware, Überwachungssoftware, Kontrollsoftware, Die vorstehend genannten Waren für die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Messtechnik; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Steuerung von Mikro- und Nanostrukturierungssystemen; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Steuerung von Lithografie-Systemen; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Detektieren von Defekten; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Prozesssteuerung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Prozessüberwachung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Software für die Mikroskopie; Software, zur Verwendung in Bezug auf folgende Waren: Rasterelektronenmikroskope; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Oberflächenstrukturierung; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Oberflächenanalyse; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Materialanalysen; Automatisierungssoftware zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, [Mikroskopie], Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Befragung und Detektieren von Defekten; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, [Mikroskopie], Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Befragung und Detektieren von Defekten; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Monte Carlo Simulationen; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Materialanalysen; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Oberflächenanalyse; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Rasterelektronenmikroskope; Kalibrierungssoftware; Messsensoren; Computerhardware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, [Mikroskopie], Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Befragung und Detektieren von Defekten
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Materialprüfung und -analyse; Kalibrierung von Analysegeräten; Installation, Wartung, Aktualisierung und Upgrades von Computersoftware, Die vorstehend genannten Dienstleistungen in Bezug auf die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Installation, Aktualisierung und Pflege von Computersoftware, Die vorstehend genannten Dienstleistungen in Bezug auf die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Software as a Service [SaaS] für die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Entwurf, Entwicklung und Programmierung von Computersoftware, Die vorstehend genannten Dienstleistungen in Bezug auf die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Entwurf und Entwicklung von Computersoftware zur Prozesssteuerung in den folgenden Bereichen: Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Erstellen von Computersoftware für Dritte, in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Prüfung und Fehlererkennung; Kalibrierung von Prozessen
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