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Messfühlerstationen zum Testen und zur Untersuchung von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Messfühlerköpfe zum Testen von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Messfühlerkarten zum Testen von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Messfühlerkarten zur Verwendung in Verbindung mit der Untersuchung von Halbleiterelementen und integrierten Schaltkreisen; Messfühler zum Testen von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Sonden zum Messen elektronischer Signale; Messfühlerkarten zur Untersuchung von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Lichtwellenleitersonden für Wafertests von Schaltungen; Positioniervorrichtungen zur Untersuchung von mikroelektronischen Baugruppen; Test-, Inspektions- und Untersuchungsapparate, Test-, Inspektions- und Untersuchungsinstrumente, Computerhardware und Computersoftware zur Verwendung im Rahmen der Fertigung, Prüfung und Inspektion von Halbleiterelementen und integrierten Schaltkreisen; Optische Inspektionsapparate für Halbleiterelemente und integrierte Schaltkreise; Computersoftware zum Testen und zur Untersuchung von integrierten Schaltkreisen; Computersoftware zur Kalibrierung von Messfühlern und Messfühlerstationen; Computersoftware zur Verwendung für den Betrieb von Prüfmaschinen für Halbleiter und integrierte Schaltkreise; Spannfutter zur Befestigung von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen im Test; Thermofutter zum Testen von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Test-, Inspektions- und Untersuchungsinstrumente für elektrische Zuverlässigkeitsprüfungen von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen