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Wissenschaftliche, Forschungs-, optische, Mess-, Prüfinstrumente und -systeme [soweit in Klasse 9 enthalten]; Optoelektronische Messgeräte und -systeme, und deren Bauteile; Optische Prüfgeräte; Meßsondenkarten und deren Teile und Bauteile; Messgeräte und -instrumente und daraus bestehende Messstationen zum Testen und zur Untersuchung von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen und zur Durchführung von Nadeltests; Messfühlerkarten zur Verwendung in Verbindung mit der Untersuchung von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Lichtwellenleitersonden für Wafertests von Schaltungen; Positioniervorrichtungen zur Untersuchung von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Optische Inspektionsapparate für Halbleiterelemente und integrierten Schaltkreise; Test-, Inspektions- und Untersuchungsinstrumente für elektrische und elektro-optische Zuverlässigkeitsprüfungen von integrierten Schaltkreisen und Halbleiterelementen; Opto-elektronische Test-, Mess- und Prüfeinrichtungen, insbesondere für Mikro-Opto-Elektro-Mechanische Systeme [MOEMS], Mikro-Elektro-Mechanische Systeme [MEMS], Wafer, optische und elektronische Bauteile und Systeme, Elektronische Chips, Computer-Chipsätze, Elektronische Chipkarten, Chips mit integrierten Schaltkreisen; Photonisch-Integrierte Schaltkreise [PICs]; Software zur Steuerung vorstehender Instrumente, Geräte und Systeme; Computerprogramme für elektronische, optische und opto-elekronische Instrumente, Geräte und Systeme
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Wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen sowie Forschungsarbeiten und diesbezügliche Designerdienstleistungen; Dienstleistungen von Ingenieuren; industrielle Analyse; industrielle Forschung; Entwurf optoelektronischer Geräte und Instrumente; Design von optischen und mikrooptischen Bauteilen und Systemen; Entwicklung, Programmierung und Implementierung von Software, insbesondere für elektronische, optische und opto-elekronische Instrumente, Geräte sowie Mess- und Prüfsysteme