N nanotools

WIPO WIPO 2005

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Die Internationale Marke N nanotools wurde als Bildmarke am 17.06.2005 bei der Weltorganisation für geistiges Eigentum angemeldet.

Logodesign (Wiener Klassifikation)

#Kreise #Briefe, die eine besondere Form des Schreibens darstellen #Farben #26.01.01 #Blau #Weiß, grau, silber

Markendetails Letztes Update: 21. Januar 2022

Markenform Bildmarke
Aktenzeichen 890864
Registernummer 30472542.0/09
Länder Japan Vereinigte Staaten von Amerika (USA) Schweiz China
Basismarke DE Nr. 304 72 542.0/09, 24. Mai 2005
Anmeldedatum 17. Juni 2005
Ablaufdatum 17. Juni 2025

Markeninhaber

Toelzer Strasse 2f
81379 München
DE

Markenvertreter

Despag-Str. 6 85055 Ingolstadt DE

Waren und Dienstleistungen

09 Scientific, electrical and optical, measurement, weighing, measuring, signalling and control apparatus and instruments, in particular, for determining and observing surfaces, physical and chemical nature of an object or a material, as well as biological traits such as enzymes, DNA, DNS, bacteria and viruses or the like; gas or vacuum chambers for scientific apparatus and instruments; equipment for the recording, transmission and reproduction of sound and display of pictures of surfaces of materials; scientific apparatus and instruments, or components thereof, for producing electron and/or ion beams and for producing electron- or ion-beam deposits; scientific apparatus and instruments, such as probe devices with measuring prods or manipulators, in particular, for use in microscopes, such as electron beam or scanning probe microscopes
40 Material processing, in particular, using semiconductor processing methods; coating of carrier materials; production of prods for probe devices for microscopes using additive and/or subtractive, chemical and/or physical methods; coating, in particular, using physical or chemical methods, of probe devices such as scanning probes, in particular, for microscopes; treatment of materials by coating, etching, metallizing, annealing, oxidising or laser treatment; coating with metals, insulators, semiconductors or organic chemicals; etching of surfaces, in particular, with wet chemical, dry chemical or physical methods
42 Scientific and industrial research, in particular, in the area of mesoscopic technology; development of calibration standards; analysis and presentation of an object's or a material's surface using scanning electron microscopes and atomic force microscopes; scientific investigations, scientific analyses, scientific recordings and scientific evaluations, in particular, using scanning electron microscopes and atomic force microscopes
Die Bezeichnungen wurden automatisch übersetzt. Übersetzung anzeigen

Markenhistorie

Datum Belegnummer Bereich Eintrag
20. März 2019 2019/14 Gaz US RAW: Partial Invalidation
24. Juli 2015 2015/31 Gaz US RAW: Partial Invalidation
17. Juni 2015 2015/27 Gaz Verlängerung
14. November 2008 2012/50 Gaz US Entscheidung zu Widerspruch
31. Juli 2008 2008/32 Gaz JP RAW: Final Reversing Refusal
03. August 2007 2008/17 Gaz RAW: Limitation
14. Juni 2007 2007/25 Gaz JP Ablehnung
22. Mai 2007 2007/25 Gaz CN Ablehnung
06. September 2006 2006/37 Gaz US Ablehnung
17. Juni 2005 2006/32 Gaz DE Eintragung

ID: 14890864