INTEGRATED · TEST · Logo (USPTO, 13.04.2007)
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Die US-Marke INTEGRATED · TEST · wurde als Wort-Bildmarke am 13.04.2007 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 15.04.2008 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "CANCELLED - SECTION 8".
| Markenform | Wort-Bildmarke |
| Aktenzeichen | 77156203 |
| Registernummer | 3412471 |
| Anmeldedatum | 13. April 2007 |
| Veröffentlichungsdatum | 16. Oktober 2007 |
| Eintragungsdatum | 15. April 2008 |
Markeninhaber
10365 Sanden Dr.
75238 Dallas
US
75238 Dallas
US
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
40
Custom manufacture of semiconductor test devices for wafer and package testing, including custom manufacture of printed circuit boards and interface hardware
Die Bezeichnungen wurden automatisch übersetzt. Übersetzung anzeigen
ID: 1377156203