USPTOSchützen Sie diese Marke vor Nachahmern!
Mit unserer Markenüberwachung werden Sie automatisch per E-Mail über Nachahmer und Trittbrettfahrer benachrichtigt.
Die US-Marke BEDEMETRIX wurde als Wortmarke am 18.08.2003 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 24.10.2006 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "CANCELLED - SECTION 8".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 76538395 |
| Registernummer | 3161266 |
| Anmeldedatum | 18. August 2003 |
| Veröffentlichungsdatum | 08. August 2006 |
| Eintragungsdatum | 24. Oktober 2006 |
Markeninhaber
P.O. BOX 103
23100 MIGDAL HAEMEK
IL
23100 MIGDAL HAEMEK
IL
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
9
MEASURING AND ANALYTICAL APPARATUS AND INSTRUMENTS AND MATERIALS CHARACTERIZATION AND MATERIALS TESTING APPARATUS AND INSTRUMENTS, NAMELY, APPARATUS AND INSTRUMENTS FOR ANALYZING AND TESTING THIN FILMS, METALLIC THIN FILMS, MULTI LAYERS, CERAMICS, SUPER CONDUCTORS AND SEMI-CONDUCTORS; POWDER, SINGLE CRYSTAL AND HIGH RESOLUTION DIFFRACTION MEASURING TOOLS; X-RAY APPARATUS AND INSTRUMENTS, NAMELY, X-RAY TUBES, X-RAY CAMERAS, X-RAY DETECTORS, DIFFRACTOMETERS, REFLECTOMETERS, AND X-RAY TOPOGRAPHY APPARATUS AND INSTRUMENTS FOR USE IN THE FIELD OF MATERIALS CHARACTERIZATION AND MATERIALS TESTING; COMPUTER HARDWARE ADAPTED FOR USE WITH THE AFORESAID; COMPUTER OPERATING SYSTEM SOFTWARE ADAPTED FOR USE WITH THE AFORESAID
Die Bezeichnungen wurden automatisch übersetzt. Übersetzung anzeigen
ID: 1376538395