TSK Logo (USPTO, 02.08.2000)
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Die US-Marke TSK wurde als Wort-Bildmarke am 02.08.2000 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet. Der aktuelle Status der Marke ist "ABANDONED - NO STATEMENT OF USE FILED".
| Markenform | Wort-Bildmarke |
| Aktenzeichen | 76101266 |
| Anmeldedatum | 02. August 2000 |
| Veröffentlichungsdatum | 12. November 2002 |
Markeninhaber
9-7-1, Shimorenjaku, Mitaka-shi
Tokyo
JP
Tokyo
JP
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
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Semiconductor manufacturing equipment, namely, semiconductor wafer scrubbing and washing machine, wire slicing machine, wafer slicing machines, slicing machines for non-silicon wafers, sliced wafer carbon emounting and cleaning machine, wafer probing machine, and chemical mechanical planarizers
9
Precision measuring machines, namely, wafer thickness measuring machine, non-contact flatness measuring machine, digital length measuring machine, laser interference length measuring sensor, optical fiber laser interferometer measuring machine, three-dimensional measuring machine, contour measuring machine, coordinate measuring machines; data processing for coordinate measuring machines, machine control gauge, displacement sensor, electric micrometer, pneumatic micrometer; computer controlled discrete device tester; automatic die selector, namely, computerized equipment for testing semiconductors and for selection of dies for semiconductor manufacture; electric or magnetic measuring instrument, namely, electric current or voltage detectors, magnetic measuring apparatus, namely, magnetic sensors, capacity measures; optical apparatus, namely, microscopes; electronic machines and instruments and their parts and fittings, namely, ultrasonic depth sounders; automatic distribution vending machines; network system comprised of computer hardware and software for wafer probing machines; wafer inspection units
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ID: 1376101266