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Die US-Marke OMNIVIEW wurde als Wortmarke am 19.04.2000 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet. Der aktuelle Status der Marke ist "ABANDONED - NO STATEMENT OF USE FILED".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 76030998 |
| Anmeldedatum | 19. April 2000 |
| Veröffentlichungsdatum | 11. September 2001 |
Markeninhaber
3050 Bowers Avenue
95054 Santa Clara
US
95054 Santa Clara
US
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
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laser and electron scanning diagnostic equipment and operational software therefor for the inspection, review, and measurement of semiconductor elements in the nature of wafers, reticules, masks, and flat panel displays
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ID: 1376030998