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Anwendungsprozessoren zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Gedruckte Schaltungen zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Chips [integrierte Schaltkreise] zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Leiterplatten mit integrierten Schaltkreisen zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Eingebettete Software zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Geräte zur Verarbeitung digitaler Signale zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Elektronische Schaltkreise zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Elektronische Chips zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Module für integrierte Schaltkreise zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Erweiterungsplatinen zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Software zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Sensoren und Detektoren zur Verwendung in Mess-, Kontroll- und Überwachungsapparaten und -instrumenten; Dosimeter; Diagnoseapparate, nicht für medizinische Zwecke; Elektrische Sicherheitsüberwachungsapparate; Überwachungsapparate und -instrumente; Satellitenrechner; Messgeräte und -apparate; Geräte zur Messung der Radioaktivität; Instrumente zur Messung der Radioaktivität