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Herunterladbare Computersoftware zur Fernüberwachung und -analyse für die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Software zur Überwachung, Analyse, Steuerung und Ausführung von Vorgängen in der physischen Welt in den folgenden Bereichen: Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Computersoftware für die Fernüberwachung von Messgeräten; Mess-, Erkennungs-, Überwachungs- und Kontrollgeräte; Rasterelektronenmikroskope; Rastersondenmikroskope; Apparate und Instrumente für die Rastersondenmikroskopie; Messsoftware, Erkennungssoftware, Überwachungssoftware, Kontrollsoftware, Die vorstehend genannten Waren für die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Messtechnik; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Steuerung von Mikro- und Nanostrukturierungssystemen; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Steuerung von Lithografie-Systemen; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Detektieren von Defekten; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Prozesssteuerung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Prozessüberwachung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Software für die Mikroskopie; Software, zur Verwendung in Bezug auf folgende Waren: Rasterelektronenmikroskope; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Oberflächenstrukturierung; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Oberflächenanalyse; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Materialanalysen; Automatisierungssoftware zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, [Mikroskopie], Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Befragung und Detektieren von Defekten; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, [Mikroskopie], Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Befragung und Detektieren von Defekten; Software zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Monte Carlo Simulationen; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Materialanalysen; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Oberflächenanalyse; Simulationssoftware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Rasterelektronenmikroskope; Kalibrierungssoftware; Messsensoren; Computerhardware, zur Verwendung in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, [Mikroskopie], Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Befragung und Detektieren von Defekten
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Materialprüfung und -analyse; Kalibrierung von Analysegeräten; Installation, Wartung, Aktualisierung und Upgrades von Computersoftware, Die vorstehend genannten Dienstleistungen in Bezug auf die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Installation, Aktualisierung und Pflege von Computersoftware, Die vorstehend genannten Dienstleistungen in Bezug auf die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Software as a Service [SaaS] für die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Entwurf, Entwicklung und Programmierung von Computersoftware, Die vorstehend genannten Dienstleistungen in Bezug auf die Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithografie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Metrologie, Inspektion und Fehlererkennung; Entwurf und Entwicklung von Computersoftware zur Prozesssteuerung in den folgenden Bereichen: Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie; Erstellen von Computersoftware für Dritte, in den folgenden Bereichen: Strukturierung, Verarbeitung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Herstellung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Lithographie, Mikroskopie, Simulation in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Klassifizierung in den Bereichen Mikro- und Nanowissenschaft und -technologie, Messtechnik, Prüfung und Fehlererkennung; Kalibrierung von Prozessen