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Die Unionsmarke PROBEWORX wurde als Wortmarke am 03.02.2005 beim Amt der Europäischen Union für Geistiges Eigentum angemeldet.
Sie wurde am 16.10.2006 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "Registration expired".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 004277943 |
| Anmeldedatum | 03. Februar 2005 |
| Veröffentlichungsdatum | 05. September 2005 |
| Eintragungsdatum | 16. Oktober 2006 |
| Ablaufdatum | 03. Februar 2015 |
Markeninhaber
16 Jonspin Road
01887 Wilmington
US
01887 Wilmington
US
Markenvertreter
Fulwood House 12 Fulwood Place
WC1V 6HR London
GB
Widerspruch / Beschwerde
Waren und Dienstleistungen
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Ausrüstungen zur Prüfung von Halbleiterscheiben, Messsondenkarten; Prozesssteuerungssysteme, bestehend aus Software- und/oder Hardwarekomponenten für die Bildgebung, Datenanalyse und Überprüfung der Funktionalität und Genauigkeit des Wafer-Testproduktions- und -Prüfprozesses in der Halbleiterindustrie; Feinmesssysteme für Messsondenkarten, bestehend aus Hardware und Software zur Verwendung bei der Herstellung, Prüfung und Reparatur von Messsondenkarten zur Prüfung von Halbleiterscheiben; Teile und Zubehör für die vorgenannten Waren
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Installation, Wartung und Reparatur von Ausrüstungen zur Prüfung von Halbleiterscheiben, Messsondenkarten, Prozesssteuerungssystemen, bestehend aus Software- und/oder Hardwarekomponenten zur Bildgebung, Datenanalyse und Funktionalitäts- und Genauigkeitsprüfung des Verfahrens zur Wafertestproduktion und -prüfung in der Halbleiterindustrie; und Messsondenkartensysteme, bestehend aus Hardware und Software zur Verwendung bei der Herstellung, Prüfung und Reparatur von bei der Prüfung von Halbleiterscheiben verwendeten Messsondenkarten
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Prüfung von Ausrüstungen zur Prüfung von Halbleiterscheiben, Messsondenkarten; Prüfung von Halbleiter-Wafern; Forschungsarbeiten und Designerdienstleistungen in Bezug auf Ausrüstungen zur Prüfung von Halbleiterscheiben, Messsondenkarten, Prozesssteuerungssysteme, bestehend aus Software- und/oder Hardwarekomponenten zur Bildgebung, Datenanalyse und Funktionalitäts- und Genauigkeitsprüfung des Verfahrens zur Wafertestproduktion und -prüfung in der Halbleiterindustrie; und Messsondenkartensysteme, bestehend aus Hardware und Software zur Verwendung bei der Herstellung, Prüfung und Reparatur von bei der Prüfung von Halbleiterscheiben verwendeten Messsondenkarten
Markenhistorie
| Datum | Belegnummer | Bereich | Eintrag |
|---|---|---|---|
| 31. März 2008 | Übertragung / Adressänderung, Published | ||
| 22. November 2006 | Änderung Vertreter, Published |
ID: 11004277943