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Die Schweizer Marke NIRVISIR wurde als Wortmarke am 02.11.2005 beim Eidgenössischen Institut für Geistiges Eigentum angemeldet.
Sie wurde am 21.03.2006 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "Gelöschte Marke".
| Anmeldedatum | 02. November 2005 |
| Veröffentlichungsdatum | 04. April 2006 |
| Eintragungsdatum | 21. März 2006 |
| Ablaufdatum | 02. November 2015 |
Markeninhaber
Industriezone Schächenwald
6460 Altdorf
CH
Markenvertreter
Promenadenstrasse 21
8201 Schaffhausen
CH
Waren und Dienstleistungen
9
Vermessungs-, Film-, Signal-, Kontroll-, Überwachungs-, Dokumentations- und Prüfeinrichtungen und Systeme auf fotografischer oder optischer Basis, soweit in Klasse 9 enthalten, insbesondere für die produzierende Industrie, insbesondere für die Kunststoff- und metallverarbeitende Industrie, insbesondere mit spektraler, multispektraler und/oder zeitlicher Auflösung, nämlich insbesondere optische Hochgeschwindigkeits-Einrichtungen und Systeme der genannten Art zur Vermessung oder Visualisierung von Materialeigenschaften, insbesondere zur vorzugsweise berührungslosen Schichtdickenmessung, zur vorzugsweise zerstörungsfreien Materialprüfung, zur Prüfung von Fügeverbindungen und zur Messung der Wärmeleitfähigkeit in dünnen Filmen und Folien; optische und fotografische Sensoren, Sensorarrays und Sensorsysteme, soweit in Klasse 9 enthalten, insbesondere für die produzierende Industrie, insbesondere für die Kunststoff- und metallverarbeitende Industrie, nämlich insbesondere Sensoren, Sensorarrays und Sensorsysteme für den sichtbaren Spektralbereich und den Infrarot-Spektralbereich, insbesondere auf Basis von Silizium, Germanium und Selen; insbesondere mit spektraler, multispektraler und/oder zeitlicher Auflösung, nämlich insbesondere Hochgeschwindigkeits-Sensoren, Sensorarrays und Sensorsysteme, insbesondere zur separaten oder gleichzeitigen Messung in verschiedenen Spektralbereichen, insbesondere in den Bereichen zwischen 400nm-780nm und 780nm-1200nm und 1200nm-13000nm, insbesondere optische Sensoren, Sensorarrays und Sensorsysteme der genannten Art mit zeitlicher Signalauflösung, zur separaten oder gleichzeitigen Messung mit verschiedenen zeitlichen Auflösungen, insbesondere im sub-Mikrosekunden-Bereich und sub-Nanosekunden-Bereich; Elektronik zur Verwendung in Einrichtungen und Systemen der genannten Art, soweit in Klasse 9 enthalten, insbesondere zur Ansteuerung und Auswertung von Sensoren, Sensorarrays und Sensorsysteme der genannten Art; Kameras, Infrarotkameras, Hochgeschwindigkeits-Kameras, soweit in Klasse 9 enthalten, zur Vermessung oder Visualisierung von Materialeigenschaften, insbesondere zur vorzugsweise berührungslosen Schichtdickenmessung, zur vorzugsweise zerstörungsfreien Materialprüfung, zur Prüfung von Fügeverbindungen und zur Messung der Wärmeleitfähigkeit in dünnen Filmen und Folien, insbesondere zur separaten oder gleichzeitigen Messung in verschiedenen Spektralbereichen, insbesondere in den Bereichen zwischen 400nm-780nm und 780nm-1200nm und 1200nm-13000nm; Kameras der genannten Art mit zeitlicher Signalauflösung, zur separaten oder gleichzeitigen Messung mit verschiedenen zeitlichen Auflösungen, insbesondere im sub-Mikrosekunden-Bereich und sub-Nanosekunden-Bereich; Geräte zur Aufzeichnung, Übertragung und Wiedergabe von Ton und Bild und Datenverarbeitungsgeräte soweit in Klasse 9 enthalten, insbesondere Computer, Bildschirme und Konsolen, insbesondere für die Steuerung und Auswertung von Daten der genannten Einrichtungen, Systeme, Sensoren und Kameras
16
Druckereierzeugnisse soweit in Klasse 16 enthalten, insbesondere Broschüren, Buchbindeartikel, Bücher sowie Magazine, Broschüren, Zettel, Briefbögen, Umschläge, Flyer, Visitenkarten, Karten, Verpackungsmaterial, insbesondere zu Werbezwecken
42
Wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen und Forschungsarbeiten und diesbezügliche Designerleistungen, insbesondere wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen für die produzierende Industrie, insbesondere für die Kunststoff- und metallverarbeitende Industrie, nämlich insbesondere zur Qualitätssicherung und Produktionsüberwachung, insbesondere optische Qualitätssicherung und Produktionsüberwachung, nämlich insbesondere zur vorzugsweise berührungslosen Schichtdickenmessung, vorzugsweise zerstörungsfreien Materialprüfung, Prüfung von Fügeverbindungen und zur Messung der Wärmeleitfähigkeit in dünnen Filmen und Folien, insbesondere mit den bezüglich Klasse 9 genannten optischen Einrichtungen, Systemen, Sensoren und Kameras
Markenhistorie
| Datum | Belegnummer | Bereich | Eintrag |
|---|---|---|---|
| 06. Juni 2016 | 2016060605 | M15 | Löschung |
| 25. Februar 2014 | 2014022505 | M90 | Änderung Vertreter |
| 01. Januar 2008 | 2008010105 | M85 | Änderung Vertreter |
| 21. März 2006 | 2006032105 | M00 | Eintragung |
ID: 121201531299