N nanotools Logo (DPMA, 22.12.2004)
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Die Deutsche Marke N nanotools wurde als Wort-Bildmarke am 22.12.2004 beim Deutschen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 24.05.2005 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "Marke eingetragen".
Logodesign (Wiener Klassifikation)
#Kreise, die einen oder mehrere Buchstaben enthalten #Briefe, die eine besondere Form des Schreibens darstellen #Zwei vorherrschende Farben
| Markenform | Wort-Bildmarke |
| Aktenzeichen | 304725420 |
| Registernummer | 30472542 |
| Internationale Marke | Nr. IR890864, 31. August 2024 |
| Anmeldedatum | 22. Dezember 2004 |
| Veröffentlichungsdatum | 24. Juni 2005 |
| Eintragungsdatum | 24. Mai 2005 |
| Beginn Widerspruchsfrist | 24. Juni 2005 |
| Ende Widerspruchsfrist | 26. September 2005 |
| Ablaufdatum | 31. Dezember 2034 |
Markeninhaber
81379 München
DE
Markenvertreter
85055 Ingolstadt
DE
Waren und Dienstleistungen
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Wissenschaftliche, elektrische, optische, Vermessungs-, Wäge-, Mess-, Signal-, Kontrollapparate und -instrumente, insbesondere zum Ermitteln und Beobachten von Oberflächen und Objekten physikalischer und chemischer Natur sowie von biologischen Objekten, wie zum Beispiel Enzymen, DNA, DNS, Bakterien, Viren oder Ähnlichem; Gas- oder Vakuumkammern für wissenschaftliche Apparate und Instrumente; Geräte zur Aufzeichnung, Übertragung und Wiedergabe von Ton und Bild, ausgehend von Oberflächen; wissenschaftliche Apparate und Instrumente oder Teile davon, zum Erzeugen von Elektronen- und/oder Ionenstrahlen sowie zum Erzeugen von Elektronen- oder Ionenstrahlablagerungen; wissenschaftliche Apparate und Instrumente, wie Sondeneinrichtungen mit Messspitzen oder Manipulatoren, insbesondere für den Einsatz in Mikroskopen, wie beispielsweise Elektronenstrahl- oder Rastersondenmikroskopen
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Materialbearbeitung, insbesondere nach Methoden der Halbleitertechnologie; Beschichtungen von Trägermaterialien; Befestigen von Messspitzen oder Manipulatoren auf Trägereinrichtungen von Sondeneinrichtungen für Mikroskope; Erzeugung von Spitzen für Sondeneinrichtungen für Mikroskope mittels additiver und/oder subtraktiver, chemischer und/oder physikalischer Verfahren; Beschichten, insbesondere mittels physikalischer oder chemischer Methoden, von Sondereinrichtungen, wie Rastersonden, insbesondere für Mikroskope; Bearbeitung von Materialien durch Beschichten, Ätzen, Metallisieren, Tempern, Oxidieren, Laserbearbeiten; Beschichten mit Metallen, Isolatoren, Halbleitern oder organischen Chemikalien; Ätzen von Oberflächen, insbesondere mit nass- oder trockenchemischen oder physikalischen Methoden
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wissenschaftliche und industrielle Forschung, insbesondere auf dem Gebiet der mesoskopischen Technik; Entwicklung von Eichstandards; Analyse und Darstellung von Oberflächen mittels Rasterelektronenmikroskopen und Rasterkraftmikroskopen; wissenschaftliche Untersuchungen, wissenschaftliche Analysen, wissenschaftliche Aufnahmen und wissenschaftliche Auswertungen, insbesondere mit Rasterelektronenmikroskopen und Rasterkraftmikroskopen
Markenhistorie
| Datum | Belegnummer | Bereich | Eintrag |
|---|---|---|---|
| 28. Juni 2024 | 202400004840 | 4 | Verlängerung, Verlaengert |
| 12. Dezember 2023 | 202300403493 | 8b | Übertragung / Adressänderung, Abgeschlossen |
| 21. Dezember 2021 | 202100466996 | 8d | Übertragung / Adressänderung, Abgeschlossen |
| 15. Oktober 2021 | 202100369077 | 8a | Übertragung / Adressänderung, Abgeschlossen |
| 30. April 2014 | 201300410991 | 4 | Verlängerung, Verlaengert |
| 24. Mai 2005 | 200503327906 | Eintragung, Marke eingetragen | |
| 24. Mai 2005 | 200503328236 | Widerspruchszeitraum, Marke ohne Widerspruch eingetragen |
ID: 10304725420