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Die US-Marke PANALYTICAL wurde als Wortmarke am 04.04.2002 beim Amerikanischen Patent- und Markenamt angemeldet.
Sie wurde am 13.12.2005 im Markenregister eingetragen.
Der aktuelle Status der Marke ist "REGISTERED AND RENEWED".
| Markenform | Wortmarke |
| Aktenzeichen | 76391600 |
| Registernummer | 3029656 |
| Anmeldedatum | 04. April 2002 |
| Veröffentlichungsdatum | 01. Juli 2003 |
| Eintragungsdatum | 13. Dezember 2005 |
Markeninhaber
LELYWEG 1
NL-7602 EA ALMELO
NL
NL-7602 EA ALMELO
NL
Markenvertreter
Waren und Dienstleistungen
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Analytical, process control and measuring apparatus, namely, reflectometers, spectrometers, x-ray fluorescence analyzers and x-ray diffraction meters for the cement, steel, aluminum, petrochemicals, industrial minerals, glass and polymers industry, and to customers in research and development institutions; metrology tools, namely, reflectometers, spectrometers, x-ray fluorescence analyzers and x-ray diffraction meters for both silicon and compound semiconductor applications, x-ray fluorescence wafer and disc analyzers [ and automated ellipsometers ] for the silicon semiconductor industry, for analyzing film thickness, composition and density; x-ray diffraction, namely, x-ray diffraction meters for the compound semiconductor industry; x-ray tubes, not for medical purposes; operating software for industrial process control and for research and development applications
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ID: 1376391600