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The German trademark AP-SMALDI10 was filed as Word mark on 11/19/2012 at the German Patent and Trademark Office.
It was registered as a trademark on 08/09/2013.
The current status of the mark is "Trademark registered".
| Trademark form | Word mark |
| File reference | 3020120596509 |
| Register number | 302012059650 |
| Application date | November 19, 2012 |
| Publication date | September 13, 2013 |
| Entry date | August 9, 2013 |
| Start of opposition period | September 13, 2013 |
| End of the opposition period | December 13, 2013 |
| Expiration date | November 30, 2032 |
Trademark owner
35394 Gießen
DE
Trademark representatives
35394 Gießen
DE
goods and services
7
Maschinen und Werkzeugmaschinen, soweit sie eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Maschinen zur Erzeugung von Strahlen und daraus bestehende Anlagen; Maschinen zur Erzeugung von Strahlen oder Ionenstrahlen; Maschinen zur Erzeugung von Ionenstrahlen und daraus bestehende Anlagen; Maschinen zur Analyse, Ablenkung und Fokussierung von Strahlen; Maschinen zur Analyse, Ablenkung und Fokussierung von Ionenstrahlen
9
Proben-Analysegeräte, welche eine Ionenquelle beinhalten; Proben-Analysegeräte, welche eine Strahlenquelle beinhalten; Ionenquellen für Massenspektrometer, soweit in Klasse 09 enthalten; Strahlenquellen für Massenspektrometer, soweit in Klasse 09 enthalten; Apparate und Instrumente für die wissenschaftliche Forschung in Laboratorien, soweit sie eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; wissenschaftliche, Vermessungs-, fotografische, Film-, optische, Wäge-, Mess-, Signal-, Kontroll- und Unterrichtsapparate und -instrumente, soweit sie eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Computer-Hardware für den Betrieb einer Ionenquelle oder Strahlenquelle; Computer-Hardware für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts; Computer-Hardware für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts, welches eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhaltet; Computersoftware für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts, welches eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhaltet; Computersoftware für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts; Computersoftware für den Betrieb einer Ionenquelle oder Strahlenquelle; Computersoftware zur Bilderzeugung und Instrumentenkontrolle für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts, welches eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhaltet; Computersoftware zur Bilderzeugung und Instrumentenkontrolle für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts; Interfaces [Schnittstellengeräte oder -programme für Computer] für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts, welches eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhaltet; Kontrollapparate [elektrisch] für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts, welches eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhaltet; Materialprüfinstrumente und -maschinen, soweit sie eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; Messgeräte [elektrisch], soweit sie eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Messinstrumente, soweit sie eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; Monitore [Computerhardware] für Beobachtungs-, Analyseinstrumente, soweit diese Instrumente eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; Monitore [Computerprogramme] für Beobachtungs-, Analyseinstrumente, soweit diese Instrumente eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; physikalische Apparate und Instrumente, soweit sie eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; Präzisionsmessgeräte, soweit sie eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; Präzisionsmessgeräte, soweit sie eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten; Überwachungsapparate [elektrisch] für den Betrieb eines Proben-Analysegeräts, welches eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhaltet; Vermessungsapparate und -instrumente, soweit sie eine Ionenquelle oder Strahlenquelle beinhalten
37
Reparaturwesen, nämlich in Bezug auf eine Strahlenquelle oder Ionenquelle; Installationsarbeiten insbesondere in Bezug auf eine Strahlenquelle oder Ionenquelle; Dienstleistungen der Reparatur, Wartung, Reinigung und Instandsetzung (Wiederaufarbeitung) von Maschinen und Geräten der Vakuumtechnik, Strahlenquellen, Ionenquellen und Ionenstrahlanlagen
40
Materialbearbeitung, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle; Oberflächenbearbeitung, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle; Oberflächenhärtung, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle; Oberflächenabtragung, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle; Umwandlung eines Gegenstandes oder Stoffes, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle; Materialbearbeitung bei der Herstellung eines Stoffes oder Gegenstandes, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle, ausgenommen Bauwerke
42
Wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen und Forschungsarbeiten und diesbezügliche Designerdienstleistungen, jeweils bezogen auf Proben-Analysegeräte, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen und Forschungsarbeiten und diesbezügliche Designerdienstleistungen, jeweils bezogen auf Strahlenquellen oder Ionenquellen; wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen und Forschungsarbeiten und diesbezügliche Designerdienstleistungen, jeweils bezogen auf Proben-Analysegeräte; wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen und Forschungsarbeiten im Bereich der Physik, sofern eine Strahlenquelle oder Ionenquelle eingesetzt wird; wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen und Forschungsarbeiten im Bereich der Physik hochgeladener Ionen; industrielle Analyse- und Forschungsdienstleistungen, sofern die eingesetzten Geräte eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; industrielle Analyse- und Forschungsdienstleistungen, sofern Proben-Analysegeräte eingesetzt werden, Entwurf und Entwicklung von Computerhardware und -software, bezogen auf Proben-Analysegeräte, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Dienstleistungen von Ingenieuren, die sich mit Bewertungen, Schätzungen, Untersuchungen und Gutachten im Bereich der Wissenschaft und der Technologie beschäftigen, sofern Strahlenquellen oder Ionenquellen in Proben-Analysegeräten eingesetzt werden; wissenschaftliche Forschungen zu medizinischen Zwecken, sofern Strahlenquellen oder Ionenquellen eingesetzt werden; wissenschaftliche Forschungen zu medizinischen Zwecken, sofern Proben-Analysegeräte eingesetzt werden; technische Beratung bei der Projektierung (einschließlich Planung und Entwicklung der vorgenannten Waren) sowie entsprechende technische Projektplanung, jeweils bezogen auf Geräte, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Dienstleistungen eines Ingenieurs, Physikers, eines technischen Mess- und Prüflabors und Regelungstechnikers und Systemtechnikers, nämlich technische Beratung und gutachterliche Tätigkeit - sämtlich in Bezug sofern Proben-Analysegeräte, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Dienstleistungen eines Ingenieurs, Physikers, eines technischen Mess- und Prüflabors und Regelungstechnikers und Systemtechnikers, nämlich technische Beratung und gutachterliche Tätigkeit - sämtlich in Bezug auf Strahlenquellen oder Ionenquellen; Bau- und Konstruktionsplanung, sofern Geräte eingesetzt werden, welche eine Ionenquelle beinhalten; elektronische Datenspeicherung - sämtlich in Bezug auf Geräte, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Durchführung von technischen Messungen, sofern Geräte eingesetzt werden, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Kalibrierung und Funktionsprüfung von Geräten, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten, Materialprüfung, sofern Geräte eingesetzt werden, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Qualitätsprüfung, sofern Geräte eingesetzt werden, welche eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhalten; Materialprüfung zur Bestimmung von Eigenschaften von Gegenständen und Materialien unter Verwendung eines Proben-Analysegerätes, welches eine Strahlenquelle oder Ionenquelle beinhaltet; Materialprüfung zur Bestimmung von Eigenschaften von Gegenständen und Materialien, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle; Materialprüfung zur Bestimmung von Eigenschaften von Gegenständen und Materialien unter Verwendung eines Analysegerätes, insbesondere unter Verwendung einer Strahlenquelle oder Ionenquelle
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Trademark history
| Date | Document number | Area | Entry |
|---|---|---|---|
| June 9, 2022 | 202100442374 | 4 | Extension, Verlaengert |
| January 8, 2014 | 201300258850 | 2a | Opposition period, Marke ohne Widerspruch eingetragen |
| August 9, 2013 | 201200393372 | 1aaa | Registration, Marke eingetragen |
ID: 103020120596509